本平台目前拥有日立S-4800冷场发射扫描电子显微镜、Park NX10原子力显微镜、德国布鲁克D8 advance X射线衍射仪与配套制样设备、X射线能谱仪、英国Malvern公司激光粒度分析仪、美国Veeco公司台阶仪等大型分析测试仪器。

 

仪器名称：NX10原子力显微镜

生产厂商：Park Systems

主要用途：

1）主要用于测量物质的表面形貌、表面电势、摩擦力、粘弹力和I/V曲线等表面性质，是表征材料表面性质强有力的新型仪器。

2）具有纳米操纵和电化学测量等功能。

技术参数：

1） XYZ方向扫描范围50μm*50μm*15μm

2） 定位检测噪音：<0 .3nm（带宽：1khz）

3） 分辨率：原子级

功能特色：

1）XY柔性导引扫描器（50μm*50μm的扫描范围）

2）告诉Z轴扫描器，扫描范围大15μm

3）低噪声位置传感器

4）电工XY轴样品台

5）自动步进扫描

6）可更换式样品架

7）高级扫描探针显微镜模式和选项扩展槽

8）直式同轴高倍显微镜，集成LED照明

9）简便的燕尾式头部装卸

10）严格校准的Z轴移动和聚焦系统

 

规格型号: S-4800扫描电子显微镜

生产厂商: 日本Hitachi

主要用途

1）样品表面高倍率放大成像，用来观察样品的表面形态和组织结构；

2）进行背散射成像，进行材料的成份的鉴定确定；

3）附带的X射线能谱仪能够进行微区成分鉴定；

性能参数：

1）二次电子分辨率 1.0nm (15 kV);2.0 nm (1 kV)；

2）背散射电子分辨率 3.0nm (15kV)；

3）加速电压 0.5~30kV(0.1KV/步，可变)；

4）放大倍率 X20~ X800,000；

5）EDX半定量分析(B～U元素)；

6）X: 0~50mm, Y: 0~50mm, Z:1.5~30mm, T: -5~+70°, R: 360°。

功能特色

1) 微区成分分析；

2）大倍率二次电子图像；

3）背散射电子图像；

样品要求 ：干燥不含挥发物质的无磁性固体粉末或块体

 

仪器名称：D8 Advance多功能X射线衍射仪

生产厂商：德国Bruker AXS

主要用途

1）物相定性与定量分析

2）晶体点阵常数精确测定

3）结晶度测定

4）晶粒大小和微观应力测量

5）粉晶法晶体结构分析

6）高低温相变研究

7）薄膜掠入射分析

8）样品环境保护衍射分析

性能参数：

1）X射线发生器：3KW；

2）测角范围：-110°～168°；

3）测角重现性：±0.0001° ；

功能特色

1）双发生器，双测角仪（q-q和q-2q），方便附件转换

2）多种样品台和单色器与探测器能组合多种衍射几何，满足不同样品要求。

3）Ge单色器提供纯Ka1光，提高谱图分辨率

4）多层膜反射镜提供高强度平行光

5）一维探测器提高接收强度几十倍

6）Si(Li)探测器能量分辨率高，免用滤波片，提供低背景谱图

7）低温－高温区间：-180～1600°C

样品要求：多晶体

 

仪器型号： Mastersizer 3000激光粒度分析仪

仪器厂商：英国Malvern公司

主要用途：能检测0.015~3500μm范围内液体、固体和乳化液的粒度分析，广泛适用于材料、化工、地质、冶金等行业。

性能参数：

1）红光光源：最大值(M) 4mW He-Ne，632.8nm；

2）蓝光光源：最大值(M) 10mW LED， 470nm；

3）有效焦距：300mm；

4）对光：自动；

5）角度范围：0.015~144度；

6）数据采集速率：10000次/秒；
7）典型测量时间：10秒/样 ；
8）粒度测量范围：0.01 - 3500 µm；
9）粒度分级数目：100 (用户可调)；

 

仪器型号： Dektak150台阶仪

仪器厂商：美国Veeco公司

主要用途：主要用于薄膜厚度，表面形貌，应力，平整度等精密测量，广发应用于光学，太阳能，半导体，生命科学，材料科学等领域。

性能参数：

1）探针直径:2.5 μm；

2）探针压力:3 mg；

3）测量范围:10~66500 nm；

4）垂直方向精度:1 Å；

5）测量重复性：6Å；
6）单次扫描最大数据点：60000个；

7）样品台:150mm，X-Y-θ手动调节；